Wang S, Chen J, Yan L, Shui Z. Automated Test Case Generation for Chip Verification Using Deep Reinforcement Learning. J. Knowl. Learn. Sci. Technol. [网际网络]. 2025年1月25日 [见引于 2026年7月23日];4(1):1-12. 载于: https://jklst.org/index.php/home/article/view/277