Wang, Shikai, Jingyi Chen, Lei Yan, 和 Zuwei Shui. 《Automated Test Case Generation for Chip Verification Using Deep Reinforcement Learning》. 知识学习与科学技术期刊 ISSN：2959-6386（在线） 4, no. 1 (一月 25, 2025): 1–12. 见于 七月 23, 2026. https://jklst.org/index.php/home/article/view/277.