Katari, Monish, 等. 《Integration of Artificial Intelligence for Real-Time Fault Detection in Semiconductor Packaging》. 知识学习与科学技术期刊 ISSN：2959-6386（在线）, 卷 2, 期 3, 2023年9月, 页 473-95, https://doi.org/10.60087/jklst.vol2.n3.p495.