Wang, Shikai, 等. 《Automated Test Case Generation for Chip Verification Using Deep Reinforcement Learning》. 知识学习与科学技术期刊 ISSN：2959-6386（在线）, 卷 4, 期 1, 2025年1月, 页 1-12, https://doi.org/10.60087/jklst.v4.n1.001.