Katari, M., Venkatasubbu, S. 和 Krishnamoorthy, G. (2023) 《Integration of Artificial Intelligence for Real-Time Fault Detection in Semiconductor Packaging》, 知识学习与科学技术期刊 ISSN：2959-6386（在线）, 2(3), 页 473–495. doi:10.60087/jklst.vol2.n3.p495.