Wang, Shikai, Jingyi Chen, Lei Yan, 和 Zuwei Shui. 2025. 《Automated Test Case Generation for Chip Verification Using Deep Reinforcement Learning》. 知识学习与科学技术期刊 ISSN：2959-6386（在线） 4 (1): 1-12. https://doi.org/10.60087/jklst.v4.n1.001.